Die umfassende Charakterisierung winzigster Strukturen oder Oberflächendetails ist die Domäne der Elektronenmikroskopie und der Röntgenspektroskopie.
Unser Rasterelektronenmikroskop (REM) liefert plastisch wirkende, hochvergrösserte Bilder, die weit jenseits der Abbildungsmöglichkeiten optischer Mikroskope liegen. Wir präparieren auch grössere Proben für das Gerät, die sich in dessen geräumigen Vakuumkammer mittels motorisierter Halterung aus zahlreichen Blickwinkeln darstellen lassen.
Eine ideale Ergänzung des REM bildet unser hochmodernes System für die Röntgenspektroskopie (EDX). Jedes Detail, welches das REM abbildet, kann damit auf seine oberflächennahe Elementzusammensetzung untersucht werden. Neben Punkt- und Linienanalysen ist die Erstellung von „Elementlandkarten“ möglich. Wenn diese dem elektronenmikroskopischen Bild überlagert werden, lässt sich die Elementverteilung auf der Objektoberfläche wirksam charakterisieren.
Für einen Grossteil der Fragestellungen aus den Bereichen Oberflächenmorphologie, Partikelcharakterisierung und Materialanalyse sind REM und EDX in ihrem Zusammenspiel die erste Wahl.
Details im Steckbrief REM
Details im Steckbrief EDX
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| Verunreinigde Kontaktoberfläche | Bruchbild eines glasfaserverstärkten Duroplastes |
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| Korrosionsprodukt auf Kontaktoberfläche | |